Fachbereich 8: Mikro- und Nanoelektronik 

Fachausschuss 8.5 Qualität und Zuverlässigkeit integrierter Schaltungen 

Frankfurt 

Arbeitsfelder:
    Der Fachausschuss umgreift das gesamte Qualifikationsgeschehen und Qualitätsmanagement von integrierten Schaltungen, vom Chiplevel über das Gehäuse bis zur elektronischen Baugruppe. Der wachsenden Bedeutung der Fehleranalyse wird mit 2 Fachgruppen Rechnung getragen. Der gesamte Arbeitsbereich des Fachausschusses wird auf der Diskussionsveranstaltung "Fehlermechanismen bei kleinen Geometrien" repräsentiert

Fachgruppen:

 

Kontakt

Prof. Dr. Christian Boit

Technische Universität Berlin, Fakultät IV
Fachgebiet Halbleiterbauelemente

Sekr. E2, Einsteinufer 19
10587 Berlin

Tel.: 030-314-25520
Fax.: 030-314-25526

E-Mail: christian.boit@tu-berlin.de