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Fachbereich 8: Mikro- und Nanoelektronik
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Fachbereich 8: Mikro- und Nanoelektronik
Fachausschuss 8.5
Fachbereich 8: Mikro- und Nanoelektronik
Fachausschuss 8.5 Qualität und Zuverlässigkeit integrierter Schaltungen
Frankfurt
Arbeitsfelder:
Der Fachausschuss umgreift das gesamte Qualifikationsgeschehen und Qualitätsmanagement von integrierten Schaltungen, vom Chiplevel über das Gehäuse bis zur elektronischen Baugruppe. Der wachsenden Bedeutung der Fehleranalyse wird mit 2 Fachgruppen Rechnung getragen. Der gesamte Arbeitsbereich des Fachausschusses wird auf der Diskussionsveranstaltung "Fehlermechanismen bei kleinen Geometrien" repräsentiert
Fachgruppen:
8.5.1. Fehlerlokalisierung in elektronischen Bauelementen
Sprecher: Dr. W. Mertin, Universität Duisburg-Essen
8.5.2. Fehleranalysestrategien
Sprecher: Prof. Dr. C. Boit, TU Berlin, Dr. J. Touzel, Infineon München
8.5.5. Zuverlässigkeit aktiver elektronischer Bauelemente
Sprecher: Dr. W. Wondrak, DaimlerChrysler FFM
8.5.6. Wafer Level Reliability and Qualifikation
Sprecher:
Dipl.-Ing. Andreas Aal, ELMOS Semiconductor AG
Kontakt
Prof. Dr. Christian Boit
Technische Universität Berlin, Fakultät IV
Fachgebiet Halbleiterbauelemente
Sekr. E2, Einsteinufer 19
10587 Berlin
Tel.: 030-314-25520
Fax.: 030-314-25526
E-Mail:
christian.boit@tu-berlin.de
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27.-28.01.2009 | Berlin
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