27.03.2010 Expertengruppe 62 0

Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen

Der gemeinsame Fachausschuss von GI (FA 3.5), ITG (FA 8.2) und GMM (FA 6.5) „Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen“

beschäftigt sich mit Fragestellungen im Umfeld von Produktionstest, Qualität und Zuverlässigkeit elektronischer Schaltungen und Systeme. Dabei stehen neben den wissenschafltich-technischen Fragestellungen auch wirtschaftliche Aspekte im Mittelpunkt der Arbeit.

Der Fachausschuss setzt sich zusammen aus Mitgliedern von:

• Hochschulen und Forschungsinstituten
• Halbleiterindustrie
• Systemherstellern

Die Schwerpunkte der fachlichen Arbeit liegen zur Zeit auf folgenden Themen:

• Defekt- und Fehlermodellierung
• Testerzeugung und Fehlersimulation
• Testgerechter Entwurf
• Selbsttest für Module und Systeme
• Test von HF-Schaltungen
• Systemtest und -zuverlässigkeit
• Diagnose von Ausfallursachen
• Selbstreparatur und Selbstheilung
• Fehlertoleran z und Online-Test
• Robuste und strahlenresistente Systeme
• Test mechatronischer Systeme
• Automatisches Test-Equipment und Testmodellierung
• Testkosten und Qualität

Der Fachausschuss trifft sich zu regelmäßigen Sitzungen und veranstaltet einmal jährlich einen öffentlichen Workshop. Dieser Workshop hat eine mittlerweile 25-jährige Tradition als deutschsprachiger Netzwork-Event. Informationen zu aktuellen Workshops sind hier zu finden:

Das Leitungsgremium des Fachausschusses besteht aus Mitgliedern von Hochschulen, Forschungseinrichtungen und Industrie. Sprecher des Ausschusses und Kontaktpersonen sind:

Dr. Jürgen Alt
Intel Mobile Communications GmbH
Neubiberg bei München
Juergen.Alt@intel.com

Prof. Ilia Polian
Universität Passau
ilia.polian@uni-passau.de

Das könnte Sie auch interessieren: