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12.05.2015 - 13.05.2015 Dresden Fachtagung / Konferenz 16 0

ITG-8.5.6 Fachgruppentagung / Nutzertreffen 2015

fWLR /Wafer Level Reliability, Zuverlässigkeit- Simulation & Qualifikation
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Termin
Beginn: 12.05.2015
Ende: 13.05.2015
Veranstaltungs-Sprache
de-DE
Zielgruppe

Halbleiterfirmen, Universitäten und Forschungseinrichtungen auf dem Gebiet der Halbleiterprozess-Zuverlässigkeit

Veranstaltungsort

Fraunhofer Institut für Integrierte Schaltungen IIS
Institutsteil Entwurfsautomatik EAS
Zeunerstraße 38
01069 Dresden
Deutschland

Beschreibung

Die ITG 8.5.6 Fachtagung ist ein deutsches Forum zur Intensivierung der Diskussion und zum Austausch von Informationen zwischen den deutschsprachigen Halbleiterfirmen, den Universitäten und den Forschungseinrichtungen auf dem Gebiet der Halbleiterprozess-Zuverlässigkeit. Ein weiterer Schwerpunkt ist die weltweite Standardisierung zum Thema Zuverlässigkeit. Bei der ITG-Fachtagung werden u.a. Standards (wie z.B.: JEDEC, IEC, AEC-Q) beschrieben und diskutiert.

Veranstalter

ITG Informationstechnische Gesells. im VDE

Mitveranstalter

ITG-Fachgruppe 8.5.6 fWLR /Wafer Level Reliability, Zuverlässigkeit- Simulation & Qualifikation

Bemerkungen

Das Nutzertreffen gliedert sich dieses Jahr in ggf. (Planung) ½ Tag Diskussion zwischen ITG8.5.6 Mitgliedern mit eingeladenen Vertretern deutscher Automobilhersteller + 1 ½ Tagen Fachtagung (nur Mitglieder).

Updates zum Programm finden sich auf der entsprechenden Fachgruppenseite.

Für die 1 ½ Tage dauernde Halbleiter-Fachtagung können ab sofort Präsentationsvorschläge eingereicht werden. Präsentations- und Anmelde-Deadline: 04.04.2015

Kontakte

Ansprechpartner
Andreas Aal
Organisation:
38440 Wolfsburg

R4u8vr9.Rr2QA5219Brxv4.uv Tel. +49 5361 9-193396

Anfahrt