Platine unter Mikroskop im Labor
science photo / Fotolia
06.03.2016 - 08.03.2016 Siegen Workshop 18 0

Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen - TUZ 2016

TUZ 2016
Zur Veranstaltungs-Homepage Anmelden
Termin
Beginn: 06.03.2016
Ende: 08.03.2016
Veranstaltungs-Sprache
de-DE
Veranstaltungsort

Siegen
Haus der Siegerländer Wirtschaft
Spandauer Straße 25
57072 Siegen

Veranstalter

GMM-VDE/VDI-Ges. Mikroelektr. Mikrosystem u. Feinwerktechn.

In Zusammenarbeit mit

GI, ITG

Kontakte

Tagungsleiter
Dr. Michael G. Wahl
Universität Siegen Elektrotechnik und Informatik Institut für Mikrosystemtechnik
Hölderlinstr. 3
57068 Siegen

3ztyrv2.Bry2Q@4z-9zvxv4.uv Tel. 0271 740-2474
Fax 0271 740-2473

Anfahrt