Stromprüfgerät bei der Messung
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08.05.2018 - 09.05.2018 Neubiberg Fachtagung / Konferenz 115 0

Nutzertreffen des ITG Fachausschusses MN 5.6

Fachgruppe "fWLR /Wafer Level Reliabilit, Zuverlässigkeit- Simulation & Qualifikation"
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Termin
Beginn: 08.05.2018 09:00 Uhr
Ende: 09.05.2018 17:00 Uhr
Veranstaltungs-Sprache
de-DE
Zielgruppe

Halbleiterfirmen, Universitäten und Forschungseinrichtungen auf dem Gebiet der Halbleiterprozess-Zuverlässigkeit. Für die Arbeitsgruppen sollten die anreisenden technischen Experten einen guten Kenntnisstand über die reliability Stress- und Mess-Sequenzen, die benötigten Teststrukturen und die Datenauswertung besitzen.

Veranstaltungsort

Infineon Technologies AG
Am Campeon 1-12
85579 Neubiberg

Beschreibung

Die ITG MN 5.6 Fachtagung ist ein deutsches Forum zur Intensivierung der Diskussion und zum Austausch von Informationen zwischen den deutschsprachigen Halbleiterfirmen, den Universitäten und den Forschungseinrichtungen auf dem Gebiet der Halbleiterprozess-Zuverlässigkeit. Ein weiterer Schwerpunkt ist die weltweite Standardisierung zum Thema Zuverlässigkeit. Bei der ITG-Fachtagung werden Standards (wie z.B.: JEDEC, IEC, AEC-Q) beschrieben und diskutiert

Veranstalter

ITG Informationstechnische Gesells. im VDE

Kontakte

Ansprechpartner + Anmeldung
Andreas Aal
Volkswagen AG
38436 Wolfsburg

r4u8vr9.rr2QA5219Brxv4.uv Tel. +49 5361 938277

Anfahrt