Platine unter Mikroskop im Labor
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27.04.2012 Dresden Vortrag 14 0

Elektromigration und deren Vermeidung in digitalen Schaltungen

150. IFTE-Institutskolloquium
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Termin
Beginn: 27.04.2012
Ende: 27.04.2012
Veranstaltungs-Sprache
de-DE
Veranstaltungsort

TU Dresden
Helmholtzstraße 18
01062 Dresden
Deutschland

Beschreibung
Elektromigration ist ein Materialmigrationsprozess in den metallischen Leiterbahnen integrierter Schaltkreise. Der Vortrag stellt Elektromigration und die Dringlichkeit ihrer Beachtung beim Schaltungs- und Layoutentwurf vor.
Weitere Preisinfos
Eintritt: frei
Veranstalter

BV Dresden

Mitveranstalter

TU Dresden, Fakultät Elektrotechnik und Informationstechnik, Institut für Feinwerktechnik und Elektronik-Design

Bemerkungen
Beginn: 14:00 Uhr

Kontakte

Prof. Lienig
TU Dresden / IFTE
Helmholtzstraße 18
01062 Dresden

154_r1_Qzw_v.uv Tel. 0351/463 347 42

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