Platine unter Mikroskop im Labor
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24.02.2013 - 26.02.2013 Dresden Workshop 3 0

Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen - TUZ 2013

25. GI/GMM/ITG Workshop
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Termin
Beginn: 24.02.2013
Ende: 26.02.2013
Veranstaltungs-Sprache
de-DE
Veranstaltungsort

Quality Hotel Plaza
Königsbrücker Strasse 121a
01099 Dresden

Beschreibung
Der Workshop ?Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen? ist das bedeutendste deutschsprachige Forum, um Trends, Ergeb­nisse und aktuelle Probleme auf dem Gebiet des Tests, der Diagnose und der Zuverlässigkeit digitaler, analoger, Mixed-Signal- und HF-Schaltungen zu dis­ku­tieren. Der Austausch von Ideen ist ein wichtiges Anliegen des Workshops.
Veranstalter

ITG Informationstechnische Gesells. im VDE

Mitveranstalter

GMM Gesells. Mikroelektronik, Mikro- und Feinwerkt im VDE/VD
GI FA 3.5 / ITG FA 8.2 / GMM FA 6.5 RSS

In Zusammenarbeit mit

Fraunhofer Institut für Integrierte Schaltungen (IIS/EAS)

Bemerkungen
Call for Papers: Einreichung der Beiträge bis spätestens 26. Oktober 2012

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