35. ITG / GMM / GI - Workshop Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systeme - TuZ 2023

Der Workshop „Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen“, veranstaltet von der Gesellschaft für Informatik, der VDE/VDI-Gesellschaft Mikroelektronik, Mikrosystem- und Feinwerktechnik sowie der Informationstechnischen Gesellschaft im VDE, ist das bedeutendste deutschsprachige Forum, um Trends, Ergebnisse und aktuelle Probleme auf dem Gebiet des Tests, der Diagnose und der Zuverlässigkeit digitaler, analoger, Mixed-Signal- und HF-Schaltungen zu diskutieren. Der Austausch von Ideen ist ein wichtiges Anliegen des Workshops.

Wir begrüßen sowohl stark praxisbezogene Erfahrungsberichte und Ergebnisse als auch Beiträge zu theoretischen Themen unter Anderem aus folgenden Bereichen:

• Hardware-orientierter Test und Hardware-orientierte Sicherheit
• Defekt- und Fehlermodellierung
• Testerzeugung, Fehlersimulation, Selbsttest und Online-Test
• Testgerechter Entwurf, DFT Methodik
• Teststandards, z.B. IEEE 1149.x, IEEE 1687.x, IEEE P1838
• Test und Simulation von Mixed-Signal, HF- und Analog-Schaltungen
• Automatisches Test-Equipment, Testautomatisierung, Testprogramme und Testmodellierung
• Testkosten und Qualität
• Statistische und maschinelle Lernverfahren für Test und Zuverlässigkeit
• Diagnose von Ausfallursachen
• Fehlertoleranz, Resilienz, Robuste und strahlenresistente Systeme
• Adaptive Systeme (z.B. Selbstreparatur, self-healing, self-awareness)
• Systemtest und -zuverlässigkeit
• Funktionale Sicherheit

Deadlines

• Max. 2 Seiten über das Easychair System: 20.11.2022
• Für die Einreichung verwenden Sie bitte ein zweispaltiges IEEE-Layout, A4.
• Benachrichtigung der Autoren: 18.12.2022
• Einreichung der druckreifen Fassung des Beitrags: 18.01.2023