VDE Young Net Symposium

Jungmitglieder

Interessierte

Von Nachwuchskräften für Nachwuchskräfte: Das VDE Bayern Young Pro Symposium bietet jungen Ingenieurinnen und Ingenieuren Antworten und Lösungen zu den technisch-wissenschaftlichen Themen unserer Zeit. Thematisches Hauptaugenmerk wird diesmal auf dem Thema Halbleitertechnologien liegen. Das Symposium bietet den Teilnehmerinnen und Teilnehmern zudem die Chance, sich ein eigenes Netzwerk aufzubauen.
Das VDE Bayern Young Pro Symposium 2024 steht unter dem Motto Innovative Semiconductor Technologies out of Munich.
 
Außerdem bietet sich die Möglichkeit, zusätzlich zur Theorie Tipps aus der Praxis von Branchenexperten zu erhalten. Wer sich vernetzen, eigene Themen oder Fragen adressieren will, auf der Suche nach Impulsen und Anregungen für die eigene berufliche Laufbahn ist und vom Erfahrungsschatz des VDE sowie seinen starken Partnern profitieren will, ist auf dieser Veranstaltung genau richtig.

Das Programm:

Produkt- und Applikationsstour
Die Veranstaltung beginnt mit einem kurzen Rundgang durch unseren Ausstellungsraum, um den Besuchern einen kurzen Einblick zu geben, wo Infineon-Halbleiter zu finden sind und wie diese unser tägliches Leben einfacher, sicherer und umweltfreundlicher machen.

Wide-Bandgap Halbleiter bei Infineon
Anschließend führt Peter Friedrichs, Fellow SiC Innovation and Industrialization, in das Thema der Wide Band Gap-Innovationen bei Infineon ein.
Mit diesem Wissen an der Hand werden die Teilnehmerinnen und Teilnehmer in zwei Gruppen aufgeteilt, um zwei verschiedene Labore zu besuchen.

Zuverlässigkeitslabor
Reliability & Qualification (RQ) ist ein globales Kompetenzzentrum innerhalb von Infineon, das auf Zuverlässigkeit spezialisiert ist und sich auf die Qualifizierung von Technologien auf der Grundlage von Ausfallmechanismen konzentriert. Bei der Führung erfahren die Besucher mehr über die verschiedenen Ausfallmechanismen in Silizium- und Breitbandlückentechnologien und die Stresstests, mit denen sie ausgelöst werden.

Labor für Fehleranalyse
Das globale Netzwerk von Failure Analysis (FA) Laboren unterstützt Infineons Produkt- und Technologieentwicklung sowie das Qualifizierungs- und Kundenreklamationsmanagement. Mit dem Ziel, die Ursachen für den Ausfall von elektrischen Bauteilen zu finden und zu verstehen, werden in der FA vielfältige Analysemethoden eingesetzt, die von optischer Bildgebung, Rasterelektronenmikroskopie (REM) und Infrarot-Thermografie bis hin zu Nanoprobing oder Transmissionselektronenmikroskopie (TEM) reichen.

Technologievorstellung: Silizium-basierte Dünnschicht Induktivitäten & Transformatoren
In der Elektronikindustrie ist ein deutlicher Trend zur Miniaturisierung von elektronischen Geräten zu beobachten. Gleichzeitig soll die Funktionalität der Systeme weiterhin gewährleistet oder verbessert werden. Induktive Bauteile stellen dabei eine Herausforderung dar. Sogenannte Magnetics-on-Silicon dienen dazu, um den zunehmenden Integrationsgrad zu unterstützen. Die Präsentation stellt die Technologie vor und zeigt Applikationsbeispiele. 

VDE Input
Kurze Vorstellung VDE , Hinweis auf nächste Veranstaltungen

Get-together
Auf der Veranstaltung gibt es Zeit zum Networking und zur Vertiefung spezifischer Themen bei Essen und Trinken.

Die Anfahrtsbeschreibung sowie den Geländeplan entnehmen Sie bitte dem Dokument Anfahrtsbeschreibung. 

Treffpunkt ist das Gebäude Campeon 9!

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