PV 모듈 시험 및 인증

이 시험의 목적은 모듈의 전기적 특성을 평가하고, 합리적인 비용과 시간 범위 내에서 모듈이 장기간의 외부 노출을 견딜 수 있음을 입증하는 데 있습니다. 이 시험은 결정질 실리콘 및 박막 모듈을 포함한 모든 지상형 평판 모듈 재료를 대상으로 설계되었습니다.

IEC 61730의 이 절은 안전한 전기적 및 기계적 운전을 보장하기 위한 태양광 모듈(PV 모듈)의 핵심 설계 요구 사항을 설명합니다. 이는 기계적 및 환경적 하중으로 인한 감전, 화재 위험 및 인명 피해의 방지를 평가하기 위한 특정 영역을 구성합니다. IEC 61730-1은 설계 요건을, IEC 61730-2는 자세한 시험 요건을 규정합니다. 개조된 모듈은 IEC TS 62915에 따라 적합성이 평가됩니다. 이 규격은 결정질 실리콘 및 박막 모듈을 포함한 모든 지상형 평판 모듈 재료에 적용됩니다.

태양광(PV) 모듈은 일반적으로 전체 수명 기간 동안 옥외에서 지속적으로 사용되도록 설계된 전기 장치입니다. 그러나 해안 지역이나 대양 및 대규모 염수 수역 인근과 같이 부식성이 강하고 습한 환경에서는 태양광 모듈의 일부 구성품이 시간이 지남에 따라 손상될 수 있습니다. 여기에는 금속 부품의 부식과, 염분 흡수로 인한 보호 코팅 및 플라스틱과 같은 비금속 재료의 열화가 포함됩니다. 이러한 피해는 모듈의 기능성에 피해를 줄 수 있습니다. 도로 및 보도의 결빙을 제거하기 위해 겨울철에 염분을 사용하는 지역에서도 일시적인 부식 환경이 발생할 수 있습니다.

염화물 화합물(예: NaCl, MgCl2)을 포함한 염수 분무에 대한 다양한 태양광 모듈의 내식성을 평가하기 위한 시험이 존재합니다. 이 시험은 평판형 태양광 모듈 및 그 조립체 모두에 수행할 수 있습니다.

태양광(PV) 모듈은 전체 수명 기간 동안 옥외에서 지속적으로 사용되도록 설계된 전기 장치입니다. 농장 축사 등 부식성의 습한 환경에서는 태양광 모듈의 일부 구성품이 시간에 지남에 따라 분해될 수 있습니다. 여기에는 금속 부품의 부식과, 암모니아 흡수로 인한 보호 코팅 및 플라스틱과 같은 비금속 재료의 손상이 포함됩니다. 이러한 손상은 기능성 및 모듈의 안전한 운전에 피해를 줄 수 있습니다.

이 규격은 암모니아(NH3)에 대한 태양광 모듈의 내성을 판단하는 데 유용한 시험 절차를 설명합니다.

이 시험을 통해 다양한 광 조건(일사량) 및 온도 하에서 태양광 모듈이 얼마나 잘 작동하는지를 측정합니다. 이는 다양한 실제 조건에서 모듈이 생산할 수 있는 출력(와트 단위)을 판단하는 데 도움이 됩니다. 목적은 태양광 모듈의 출력을 시험 및 평가하기 위한 표준 방법론을 제작하는 것입니다.

이 시험은 고온다습한 환경에서 고전압 부하에 태양광 모듈이 얼마나 잘 대응하는지를 시험합니다. 이는 전위 유도 열화(PID)라 불리는 특정 유형의 출력 손실을 통해 이루어지며, 실제 옥외 조건에서 이러한 손실이 어느 정도 발생할 수 있는지를 예측하기 위한 특수한 방법을 사용합니다.

이 시험은 태양광 모듈이 설치 중 받는 바람, 눈, 사람의 취급 등 물리적 하중을 시뮬레이션합니다. 모듈에 바꾸어가며 힘을 가함으로써 태양전지, 전기 연결부, 밀봉부와 같은 구성 요소가 시간의 흐름에 따라 파손되거나 고장날 수 있는지 시험합니다.

이 시험에서는 접착제, 봉지재 등 태양광 모듈에 사용되는 재료를 평가합니다. 재료의 강도, 유연성, 전기 및 열전도성 등이 측정됩니다. 시험 결과는 제조사가 생산 과정과 모듈의 수명 기간 동안 품질과 신뢰성을 보장하는 데 도움을 줍니다.

이 시험은 초고온 환경에서 사용되는 태양광 모듈을 대상으로 합니다. 이는 일반적인 규격을 초과하는 온도에 노출된 경우에서 출력과 내구성을 시험합니다. 패널이 실제 운용 중 도달할 것으로 예상되는 온도에 따라 두 단계의 고온 조건으로 시험됩니다.

이 시험은 기본적인 인증 시험을 넘어 태양광 모듈이 오랜 시간 동안 어떻게 성능을 유지하는지를 확인합니다. 이 과정에서 모듈 제조에 사용된 재료와 구조가 평가되며, 다년간의 운전 후 보일 수 있는 잠재적 문제를 시험합니다. 이는 서로 다른 모듈 구조 또는 재료를 비교하는 데 특히 유용합니다.

이 시험은 고온에서 전류를 인가함으로써 발생하는 광 유도 열화(LETID)의 영향을 평가하는 것을 목적으로 합니다.