27.03.2010 Expertengruppe

GMM FA 6.5 Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen

Der gemeinsame Fachausschuss von GI (FA 3.5), ITG (FA 8.2) und GMM (FA 6.5) „Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen“

beschäftigt sich mit Fragestellungen im Umfeld von Produktionstest, Qualität und Zuverlässigkeit elektronischer Schaltungen und Systeme. Dabei stehen neben den wissenschafltich-technischen Fragestellungen auch wirtschaftliche Aspekte im Mittelpunkt der Arbeit.

Der Fachausschuss setzt sich zusammen aus Mitgliedern von:
• Hochschulen und Forschungsinstituten
• der Halbleiterindustrie
• Systemherstellern

Die Themenschwerpunkte unserer fachlichen Arbeit sind breit gefächert:

• Defekt- und Fehlermodellierung
• Testerzeugung und Fehlersimulation
• Testgerechter Entwurf
• Selbsttest für Module und Systeme
• Test von HF-Schaltungen
• Systemtest und -zuverlässigkeit
• Diagnose von Ausfallursachen
• Selbstreparatur und Selbstheilung
• Fehlertoleran z und Online-Test
• Robuste und strahlenresistente Systeme
• Test mechatronischer Systeme
• Automatisches Test-Equipment und Testmodellierung
• Testkosten und Qualität

Der TUZ-Workshop - Einladung zum Net-Working und mehr ...

Der Fachausschuss trifft sich zu regelmäßigen Sitzungen und veranstaltet einmal jährlich einen öffentlichen Workshop. Dieser Workshop hat eine mittlerweile 25-jährige Tradition als deutschsprachiger Netzwork-Event. Informationen zu aktuellen Workshops sind hier zu finden:

Das Leitungsgremium des Fachausschusses besteht aus Mitgliedern von Hochschulen, Forschungseinrichtungen und Industrie.

Haben wir Ihr Interesse geweckt? Dann sprechen Sie uns doch an!

Dr.-Ing Stephan Eggersglüß, stephan_eggersgluess@mentor.com
Prof. Ilia Polian, Universität Stuttgart, ilia.polian@informatik.uni-stuttgart.de

Kontakt:
Dr. Stephan Eggersglüß
Prof. Dr. rer. nat. habil. Ilia Polian

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